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xrd分析-j9九游

发布:2023-08-23 09:07,更新:2024-09-13 08:00

xrd分析是指x射线衍射分析,通过利用晶体形成的x射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。它将具有一定波长的x射线照射到结晶性物质上时,x射线因在晶体内的散射而产生波长改变的现象,称之为x射线衍射。中科检测提供xrd分析服务,具有cma,cnas资质。

分析方法包括:

衍射图谱分析、电子密度分析、高峰分析和面积分析。

衍射图谱分析:通过测量衍射光束的强度和角度,可以分析材料内部的院子和分子结构以及形态。

电子密度分析:通过电子密度分析,可以确定晶体中原子的平均位置,找到其化学键和其他有用信息。

高峰分析:根据a/b峰高度比来确定相对标准粉末的衍生图对应的峰。

面积分析:可以得到晶体含量和温度关系之间的关系。

分析标准:

astm d3906-2003 八面沸石型包含沸石材料的相对x射线衍射强度的测定用标准试验方法

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en 12698-2-2007 氮化物结合碳化硅耐火材料的化学分析 第2部分:x射线衍射(xrd)法

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